【e报道】多任务并行ATE 助力消费电子行业全速发展
ATE设备是实现电子故障自动化诊断的主要工具。结合现代微电子、计算机技术、虚拟技术、信息技术和人工智能、数据库管理等技术，ATE完全替代了手动检测和半自动检测，在主控计算机的控制下自动完成对被测设备的特定检测、故障诊断、数据处理，并直接显示检测结果，实现了检测过程的高度自动化。目前在电子工业领域应用广泛。
不过，ATE仍然还有局限性，国内电子科技领域专家、上海宏测半导体科技有限公司研发总监郑传俊介绍说，过强的针对性和非标准设计使得ATE难以应用于复杂的系统，无法在多个检测任务间共享，检测系统之间难以实现互相操作。而随着集成电路制造业的进步，数模混合、大功率高压器件和传统IC测试的整合成为芯片设计行业的两个技术发展方向。芯片的集成度越来越高，这也要求ATE的测试要更加完善，既要能测模拟信号，也要能测数字信号；既要能测IC，也要具备一些功率器件的测试功能。
对于芯片制造商们来说，针对新开发的、即将推向市场的芯片功能的测试，将左右他们在高风险半导体市场中所占市场份额的多寡。无论是自动化设备验证，还是自动化生产测试，芯片制造商们都会基于对软件生产效率、测试覆盖率/质量、资本设备成本、吞吐量、营运成本等方面特性的整体权衡考量来选择测试解决方案。
基于这样的标准，郑传俊带领团队从两大部类展开了创新与研发工作。为了使多任务并发测试技术与ATE实现低成本地结合与应用，宏测团队一方面改良了核心测试的构造，在承袭传统的检测技术与自动实施信号处理技术基础上，针对不同的DUT，推出了数模一体测试的ATE设备，不仅能尖端或工业级芯片的测试任务，还充分考虑到用量巨大的消费级电子芯片设计封装测试企业的需求。
“处理的速度和能力，取决于计算机能力，但对于一套ATE设备来说，高指标的计算机不一定是最适合的计算机，满足系统的需要，协调才是最好的标准。”郑传俊认为，过分追求高端化而忽视实际地应用需求，也是一种资源浪费。一直以来，ATE设备难于推广，其价格是主要原因。
目前，宏测团队自主研发的低成本数模混合式ATE已正式投入市场，运行数据显示，实现了并行技术的宏测ATE测试价格只有国外同类产品价格的五分之一，大大拓展了ATE的应用范围，使ATE一机多用成为可能，使众多消费IC客户可以利用较少的测试资源完成相同甚至更多的测试产出，将显著降低消费级电子产品的生产成本，使众多的普通消费者获益。
郑传俊表示，未来ATE设备的创新与研发方向还将以降低测试成本为主，“作为研发企业，要从计算机技术的作用、控制系统的协调、控制信号的注入路径、控制数据的采集和处理等方面通盘考虑。”（李鑫）
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